轮廓粗糙度测量机系列
型号一、HOMMEL-ETAMIC W20便携式粗糙度仪
产品介绍:
--探测全面:由于采用了无导头探测系统,所以可移动测量所有常见的粗糙度、波纹度和原始轮廓特性参数。
--定位自动:配置了电动测头降低系统,所以测头可自动在工件表面定位和提起。
--测量灵活:内置蓄电池,所以使用时不需外接电源,尽显移动测量的灵活性。
--信息广泛:可显示特性参数,微观轮廓图形、支撑率曲线和统计数据。
--操作简单:通过配置上下文提示功能键的触摸屏,操作简单。
--记录方便-集成了打印机,可及时记录测量结果文件,方便简单。
--测量可靠:通过内置标准粗糙度标准块,可及时检测测量仪,保证了测量的可靠性。
--Waveline 20给进单元,用于粗糙度和波纹度的精密测量:集成启动按钮,可单手操作;配置高精密导轨,可对直线度和波纹度进行精密测量;具有不同测量速度;可测量所有位置(还可仰测);无导头型测头范围广,可针对不同应用情况。
--测头自动下沉:测头在工件表面自动定位并自动调整所选的测量范围;测量结束时测头自动抬起,可在换工件时免受损坏。
--通过触摸屏完成上下文提示操作;8个测量程序;针对4个基本功能的功能键;可评价所有常见的粗糙度、波纹度和原始轮廓特性参数;公差评估的可能性广;通过触摸屏快速且舒适输入其他数据;清晰显示测量结果,特性参数、轮廓线图形、交互支撑率曲线、广泛的统计功能。
--Waveline 20测量站:能使移动式W20变成完整的固定式测量站;带T型槽的石板规格400X280mm;高度可调范围300mm;回转装置的回转范围:±45°;可选配测量平台和其他附件。
型号二、HOMMEL NanoScan高精密粗糙轮廓度测量仪
产品介绍:
--HOMMEL NanoScan高精密粗糙轮廓度测量仪,可以在一个测量流程内组合测量粗糙度和轮廓,柔性大,能够满足表面测量技术的所有需求,既省时,又省费用。
--选项:用于特殊测量需求的粗糙度和轮廓测头臂;经过认证的qs-STAT接口(AQDEF);轮廓标准块KN8;可保护测量系统免受环境影响的护罩。
--供货范围:带22寸TFT显示屏的评价电脑,CD刻录器,粗糙度和轮廓测量评价软件;具有自动保存功能的PDF打印机;wavecontrol basic操作面板;包含3个带金刚石探测头或红宝石测头的测头臂;粗糙度标准块RNDH2;用于紧固工件的测量台MT1 XYO;校准用球形标准件。
技术特点:
--电子测头臂识别技术;
--探测头的电子保护装置;
--电子调节探测力;
--高精度的测头臂定位;
--可上下测量;
产品特点:
--超精密的光机探测系统;
--通用性好;
--极富人性化的设计;
--测头臂的选择范围广;
--创新的技术;
--校准方法简单;
--新的评价可能:可上下测量,测量工件表面形貌时的测量行程大;
--校准整个系统时只需一个球形标准件;
--由于使用了磁性测头臂支架,所以测头臂的更换迅速可靠;
--测头臂安装了双探测头,所以一次运行可上下探测。
技术参数:
型号三、HOMMEL T8000SC粗糙轮廓度综合测量仪
产品介绍:
--霍梅尔T8000SC粗糙轮廓综合测量仪配置了分辨率极高的探测系统,同时测定粗糙度和轮廓。几何参数以及粗糙度特征数据在一个流程中的评价。此测量系统性价比优秀,具备的测量功能和能力可以和复杂的实验室测量系统媲美。
--选项:通过电动倾斜单元和CNC软件实现完整的CNC功能;用于特殊测量需求的粗糙度和轮廓测头臂;经过认证的qs-STAT接口(AQDEF);轮廓标准块KN8;wavecontrol操作面板;仪器台GTR。
--供货范围:带19"TFT显示屏的评价电脑,CD刻录器,粗糙度和轮廓测量评价软件;具有自动保存功能的PDF打印机;带自动探测功能的电动测量立柱wavelift 400;带增量值光栅尺的进给装置waveline 120advanced;进给装置的倾斜和紧固单元,回转范围±45°,精回转范围±5°;带10mmT槽的硬岩石板;wavecontour surfscan测头,包含金刚石探测头和红宝石探头的两个测头臂;粗糙度标准块RNDH2;用于紧固工件的测量台MT1 XYO;校准用附件一套。
技术特点:
--分辨率出色,6mm测量范围的分辨率是6nm;
--仅在一个测量范围内便具备完整的分辨率;
--测量力可调;
--测头电动抬起/下降,所以测量流程自动;
--模块化结构,可拓展。
产品特点:
--粗糙度测量和轮廓共用一个探测系统;
--测量斜面和曲面的粗糙度;
--由于测量范围大,所以测量系统不再需要相对工件表面定位;
--磁性测头臂支架,测头臂更换迅速可靠;
--用于评价粗糙度和轮廓特征的软件功能广泛;
--针对不同测量任务,磁性测头臂支架保证了测头臂的更换迅速、简单、可靠;
--配置了wavecontour surfscan探测系统的粗糙度轮廓综合测量仪正在测量滚珠丝杆。
技术参数:
型号四、HOMMEL T8000R粗糙度仪
产品介绍:
--霍梅尔T8000R专为测量各类复杂的粗糙度而设计,技术专业。此粗糙度符合国际标准,既可投放到生产现场使用,也可安装在测量室使用。该粗糙度仪具备不同的拓展等级,如有需要还可以拓展用于测量工件表面形貌和轮廓。
--选项:通过电动倾斜单元和软件完整的实现CNC功能;经过认证的qs-STAT接口(AQDEF);螺旋纹路测量:测量粗糙度时可在切线方向进行旋转补给,螺旋纹路软件;工件表面形貌测量:电动Y向定位台和软件HOMMEL MAP,用于3D特征数据的显示和评价;轮廓测量的拓展包;不同应用的粗糙度测头和测头臂;测量台MT1 XY,MT1 XYO;wavecontrol basic操作面板;仪器台GTR。
--供货范围:带19"TFT显示屏的评价电脑,彩色打印机,CD/DVD刻录器,粗糙度评价软件;带自动探测功能的电动测量立柱wavelift 400;带增量值光栅尺的进给装置waveline 60/120;进给装置的倾斜和紧固单元,回转范围±45°,精回转范围±5°;带10mmT槽的硬岩石板;TKU300测头一套,包含4个不同应用测针;固定测头支架FHZ;粗糙度标准样块RNDH2。
技术特点:
--采用基准面测量原理时的进给精度高;
--模块化结构;
--以电脑为基础的评价单元;
--牢固的高斯滤波器符合ISO/TS 16610-31标准;
--具有众多汽车制造行业独有的特性参数。
产品特点:
--能够计算所有常见的表面轮廓,粗糙度和波纹度
特征数据(90多个);
--测量粗糙度和波纹度的探测距离是60mm/120mm;
--采用套筒结构,所以能够测量很难接触的位置;
--采用通用粗糙度测头,并且使用可更换的测头臂,所以能够满足不同或特殊的测量需求;
--稳定和牢固的立柱保证了测头的自动定位;
--对软件及标准进行了不断的改进和升级;
--软件的可操作性佳,界面结构清晰,通过软件可创建个性化的测量程序。
--测量较深的面或两个凸缘之间的面时,探头可回转90度,并在进给方向的横向探测,省却麻烦的换装过程。
--测头既可通过套筒安装,也可安装在进给装置的下方,所以保证了测量仪的最大柔性和最大应用。
技术参数:
型号五、HOMMEL T8000RC粗糙轮廓度仪
产品介绍:
--霍梅尔T8000RC粗糙轮廓度仪最大的特点是两个探测系统的智能化布置,所以组合测量非常完美。粗糙度和轮廓通过两个单独的探测系统测定。粗糙度测头通过套筒定位,甚至是一些难以达到的测量位置。轮廓测头的更换简单,必要时轮廓侧头和粗糙度测头可并行运行。
--选项:通过电动倾斜单元和CNC软件实现完整的CNC功能;VDA和戴姆勒奔驰公司标准的特殊参数;螺纹纹路测量:测量粗糙度时可在切线方向进行旋转进给,螺旋纹路软件;工件表面形貌测量:电动Y向定位台和软件HOMMEL MAP,用于3D特征数据的显示和评价;经过认证的qs-STAT接口(AQDEF);轮廓标准块KN8;wavecontrol basic操作面板;仪器台GTR。
--供货范围:带22"TFT显示屏的评价电脑,CD刻录器,轮廓测量评价软件;具有自动保存功能的PDF打印机;带自动探测功能的电动测量立柱wavelift 400;带增量值光栅尺的进给装置waveline 120advanced;进给装置的倾斜和紧固单元,回转范围±45°,精回转范围±5°;带10mmT槽的硬岩石板;TKU300/600测头一套,包含4个探针;固定测头支架FHZ;粗糙度标准块RNDH2;wavecontour digital或digiscan轮廓传感器,包含硬质合金探测头的测头臂;用于紧固工件的测量台MT1 XYO(也可以不选);校准用附件一套。
技术特点:
--粗糙度和轮廓通用的测量系统;
--探测系统更换简单;
--在整个进给长度内部都可以测量粗糙度;
--测头电动抬起/下降,所以测量流程自动;
--粗糙度测头既可与上访的套筒连接,也可安装在进给装置的下方。
产品特点:
--粗糙度测量和轮廓测量采用统一操作界面;
--能够计算所有常见的表面轮廓、粗糙度和波纹度特征数据(90多个);
--可评价几何项目,如距离、角度和半径;
--测量粗糙度、波纹度和轮廓度时的探测距离是120mm;
--在一个测量报告内评价粗糙度和轮廓特征数据;
--进给导轨的精度高,并配置了数字光栅尺,所以结果精确;
--wavecontour digital轮廓探测系统,行程120mm,带数字探测系统;
--精密测量粗糙度,测头的选择范围大,可以满足不同的测量需求。
技术参数:
型号六、HOMMEL C8000/T8000轮廓度仪
产品介绍:
--霍梅尔C8000轮廓仪专为轮廓测量而设计,精度高,性价比出色。该粗糙度仪具备不同的拓展等级,如有需要还可以拓展用于测量工件表面形貌和轮廓。
--C8000选项:经过认证的qs-STAT接口(AQDEF);轮廓标准块KN8;wavecontrol basic操作面板;仪器台GTR。
--供货范围:带22"TFT显示屏的评价电脑,CD刻录器,轮廓测量评价软件;具有自动保存功能的PDF打印机;带自动探测功能的电动测量立柱wavelift 400;带增量值光栅尺的进给装置waveline 120/200;进给装置的倾斜和紧固单元,回转范围±45°;带10mmT槽的硬岩石板;wavecontour digital或digiscan轮廓传感器,包含硬质合金探测头的测头臂;用于支撑工件的测量台MT1 XYO(也可以不选);校准用附件一套。
技术特点:
--能根据测量需求和工件大小进行个性化配置;
--具有人机通讯能力的控制系统;
--配置的数字探测系统保证了测量的高精度和持续精度;
--强大的评价功能;
--可以处理多个轮廓。
产品特点:
--电动测头下降装置,行程可调;
--自动测量流程和评价功能;
--不同应用时,测头臂更换简单方便;
--结构紧凑、坚固,既可用于生产现场,也可用于测量室;
--测量曲轴沉割槽圆弧半径;
--高性能轮廓评价,在Z轴和X轴方向上具有数字光栅尺。
技术参数:
型号七、OPTACOM MK-CMS-2.x快速轮廓测量仪
产品介绍:
--Optacom生产的MK-CMS-2.x系列轮廓仪操作简单,性价比高。MK-CMS-2.0轮廓测量仪配有三根测量轴X,Z,T.不管是在车间还是计量室,都可以满足客户的轮廓测量需求。只需一次测量,即可完成零件轮廓的扫描。
--用户可以自配前后Y方向可调整夹具,用于寻找回转体零件的最高点和最低点。
--MK-CMS-2.x轮廓测量仪X和Z轴都采用精密滚珠丝杠传动。
--CMK-CMS-2.x轮廓测量仪X,Z,T三轴都采用增量式非接触光栅测量系统,测量软件采用自己研发的MK-CMS Edition轮廓测量软件。
技术参数:
型号八、Trimos TR-SCAN光学粗糙度仪
产品介绍:
--Trimos TR-Scan非接触微观形貌(粗糙度)测量仪,系统采用TRIMOS专利技术数字全息三维显微测量技术(DHM),广泛应用于高精密微观表面检查。与传统非接触测量技术相比,测量速度快,对震动不敏感,真正的实现三维形貌纳米级测量。模块化的设计理念,可配置共焦显微系统, 探针测量系统,传感器直接更换,方便快捷,极大的满足了不同的应用范围。即可用于计量单位和材料科学研发实验室,也广泛应用在工业制造领域:汽车、航天、航空、表面涂层、医疗产品、微型电机系统、半导体等行业。
产品特点:
--非接触式测量原理,无损化检测粗糙度,微观形貌;
--独有的数字全息三维显微技术,真正实现3D微观形貌测量;
--创新的成像原理,从原理上保证了对外界振动不敏感,Z轴分辨率高;
--激光找正工件并自动定位,测量速度快;
--模块化的设计概念,多种光学光路原理,直接更换传感器,不需要调整,方便快捷;
--可非标定制相应的测量头,满足不同客户的特殊工件测量要求;
--即可选用数字全息技术实现高精密表面测量,也可选用色谱共焦技术实现微观轮廓测量或选用接触式探针实现内壁粗糙度测量;
--惯用了Trimos“智能用户界面”的理念,测量过程全自动,操作简单;
--采用专业的3D形貌分析软件,功能强大,即可实现2D轮廓测量,也可进行3D形貌分析;
--可进行编程批量检测并自动生成分析报告;
--完全兼容2D标准,并已内置即将制定的3D标准。
软件特点:
--TRIMOS NanoWare软件,拥有国际权威的评价标准程序来实时更新国际标准测量符合以下标准:ISO (4287、4288、11562、1101、12085、13563等),法国标准NF,制造标准CNOMO,ASME (B46.1) 和DIN标准;三维表面特征数据标准ISO 25178系列同样有效。
--TRIMOS NanoWare LT特点:用于二维轮廓粗糙度测量分析的基本模块。操作简便,包含用于表面检查,分析形貌,粗糙度和波纹度测量的重要功能。常用参数要求数据Ra、Rq、Rt、线性材料曲率;过滤方式、水平、放大;所有测量可复现三维形貌。
--TRIMOS NanoWare STT:3轴测量基本模块. 包含分析轮廓的所有功能及符合ISO 25178表面分析;3D基本参数(Sa, Sq, St, Smr, ...);表面图形仿真;距离, 高度及角度测量;成型, 拉平, 视图等滤波器;最终结果管理;测量点管理/再采集;轮廓提取, 体积测量。
--TRIMOS NanoWare PRO:2D及3D表面特征评估最完整版本。此模块综合了表面测量领域15年以来的经验。市场上最高性能的软件;表面图层研究;3D形貌鉴定;表面及轮廓统计分析及研究。
--可选测头:DHM激光全息测头、CCM色谱共焦测头、DIA P1接触式测头。
型号九、Trimos TRscan非接触式微观形貌测量仪
产品介绍:
--Trimos TRscan非接触式微观形貌测量仪,全自动共焦三维测量。专用于刀具制造工业,根据多点谱线共焦,一次入射200束光到工件表面,在每束光路上自动聚焦,快速获得刀具表面三维形貌,采用此次多点谱线共焦传感器和图像处理系统,可以对各种复杂的刀刃及其模具进行准确的测量,具有完善的分析功能模块,对其表面形貌进行轮廓、面积、体积、粗糙度、截面等测量。
产品特点:
--强大的多点共焦技术,最准确的测量出表面形貌数据(角度、半径、轮廓、粗糙度);
--通过光学方式测量Ra、Rq、Rz等粗糙度参数;
--测量速度快,可整合成一个高效的在线测量系统;
--适用于陡峭的斜面,爬坡角度高达85度;
--垂直分辨率高达30nm;
--TRSCAN是唯一可同时获得表面形貌和真实颜色信息的3D测量设备,测量更加精确灵活;
--通过脚本自动测量,更适用于批量测量,并生成图形或数字报告;
--粗糙度和轮廓测量符合国际公认EN/ISO4287标准
--可用于选定区域的面积及体积计算;
--可选配转台,实现三维扫面;
--可用于复杂几何外形的形状分析,可测量角度、半径等表面特征。
技术参数:
型号十、OPTACOM VC10/VC10EL/ VC10UL/ LC10粗糙度轮廓测量仪
产品介绍:
--OPTACOM致力于各行业领域的实验室或工作现场精密轮廓粗糙度测量需求,为您提供各种类型的轮廓形貌扫描测量仪或精密轮廓粗糙度综合测量仪。仪器参数符合ISO、DIN、JIS、EN等各类标准。CNC全自动X、Z轴采用全程大量程高精度光栅尺,选配上下双向测针,Y轴自动工作台同时可测量旋转类工件内外径几何尺寸(自动锁定拐点测直径),内外轮廓形貌等。再选配分度头装夹工件,可测量圆度、圆柱度及不同截面的复杂几何尺寸。
--硬件特点:模块化设计,升级简单;维护保养成本低;增量式光栅;测针全自动接触工件表面;测针坚实耐用,全自动防撞保护系统;固定式测杆系统;最大425X425mm标准测量范围;移动亦可测量,测量亦可移动。
--软件优点:所有测量模块,一个测量软件;人性化的软件,操作简单;软件支持中文及多国语言;一次测量即可评价轮廓度、粗糙度、圆度;全自动测针校准;可自定义打印模板;测量和打印多窗口独立显示。
产品特点:
--仪器主体结构采用轻型耐用的航空合金材料;
--X轴与Z轴采用独立机械系统,可同时实现X&Z双轴全量程范围内连续扫描,并保持针尖分辨率恒定;
--X轴与Z轴采用独立整体光栅系统;
--THK独家供给的超精密线性导轨;
--非接触式增量光栅的测量系统,密闭式的设计可最大程度降低磨损和提高读数可靠性;
--轻型高强度碳纤维聚合物测量臂;
--电子反馈测力机构;
--快速装卸测针装置,可自定位;
--操纵杆全自动控制测量。
技术参数: